Structural phase transition of ultra thin PrO2 films on Si(111)

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Veröffentlicht in:	Journal of physics. Condensed matter 2009-04, Vol.21 (17), p.175408
Hauptverfasser:	Gevers, S, Weisemoeller, T, Zimmermann, B, Bertram, F, Deiter, C, Wollschläger, J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Structure and morphology thickness Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
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