Ion-beam-induced enhanced diffusion from gold thin films in silicon : Surface, interface and atomic-scale science

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of physics. Condensed matter 2008, Vol.20 (48)
Hauptverfasser:	GHATAK, J, SUNDARAVEL, B, NAIR, K. G. M, SATYAM, P. V
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Diffusion interface formation Exact sciences and technology Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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