Selective Epitaxial Growth of SiGe Layers with High Aspect Ratio Mask of Dielectric Films : Fundamentals and applications of advanced semiconductor devices
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | IEICE transactions on electronics 2008, Vol.91 (5), p.767-771 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | |
---|---|
ISSN: | 0916-8524 1745-1353 |