Selective Epitaxial Growth of SiGe Layers with High Aspect Ratio Mask of Dielectric Films : Fundamentals and applications of advanced semiconductor devices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEICE transactions on electronics 2008, Vol.91 (5), p.767-771
Hauptverfasser: CHOI, A-Ram, CHOI, Sang-Sik, PARK, Byung-Guan, SUH, Dongwoo, KIM, Gyungock, KIM, Jin-Tae, CHOI, Jin-Soo, CHO, Deok-Ho, HAN, Tae-Hyun, SHIM, Kyu-Hwan
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0916-8524
1745-1353