Stable Electrical Operation of 6H-SiC JFETs and ICs for Thousands of Hours at 500 °C

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE electron device letters 2008-05, Vol.29 (5), p.456-459
Hauptverfasser:	NEUDECK, Philip G, SPRY, David J, PROKOP, Norman F, CHEN, Liang-Yu, BEHEIM, Glenn M, OKOJIE, Robert S, CHANG, Carl W, MEREDITH, Roger D, FERRIER, Terry L, EVANS, Laura J, KRASOWSKI, Michael J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Interfaces Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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