Growth and characterization of Yb3+ doped Y2SiO5 layers on Y2SiOS substrate for laser applications

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Optical materials 2008, Vol.30 (8), p.1289-1296
Hauptverfasser:	THIBAULT, F, PELENC, D, CHAMBAZ, B, COUCHAUD, M, PETIT, J, VIANA, B
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Exact sciences and technology Fundamental areas of phenomenology (including applications) Laser materials Optical materials Optics Physics
Online-Zugang:	Volltext
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