Critical layer thickness in compositionally-graded semiconductor layers with non-zero interfacial mismatch

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor science and technology 2008-04, Vol.23 (4), p.045018
1. Verfasser:	Ayers, J E
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Defects and impurities: doping, implantation, distribution, concentration, etc Exact sciences and technology Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
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