Specific contact resistance measurements on semiconductors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of physics. E, Scientific instruments Scientific instruments, 1989-05, Vol.22 (5), p.317-321
Hauptverfasser: Mak, L K, Rogers, C M, Northrop, D C
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0022-3735
DOI:10.1088/0022-3735/22/5/010