Electrical transport measurements on off-axis n-Si samples

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor science and technology 1990-06, Vol.5 (6), p.577-580
Hauptverfasser: Aubrey, J E, Adamu, A
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0268-1242
1361-6641
DOI:10.1088/0268-1242/5/6/020