The influence of ion-enhanced field emission on the high-frequency breakdown in microgaps

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Plasma sources science & technology 2007-05, Vol.16 (2), p.337-340
Hauptverfasser: Radmilović-Radjenović, Marija, Radjenović, Branislav
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0963-0252
1361-6595
DOI:10.1088/0963-0252/16/2/017