Analytical determination of MOSFET's high-frequency noise parameters from NF50 measurements and its application in FRIC design : 2006 Radio Frequency Integrated Circuits (RFTIC) Symposium

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE journal of solid-state circuits 2007, Vol.42 (5), p.1034-1043
Hauptverfasser:	ASGARAN, Saman, DEEN, M. Jamal, CHEN, Chih-Hung, ALI REZVANI, G, KAMALI, Yasmin, KIYOTA, Yukihiro
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Amplifiers Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:	0018-9200 1558-173X