Experimental method to thermally deembed pads from RTH measurements

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2006, Vol.53 (10), p.2540-2544
Hauptverfasser:	LI, James Chingwei, HITKO, Donald A, SOKOLICH, Marko, ASBECK, Peter M
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Testing, measurement, noise and reliability Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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