Gate-dielectric permitivity and metal-gate work-function tradeoff in Lmet = 25 nm PDSOI device characteristics
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Veröffentlicht in: | IEEE electron device letters 2006-06, Vol.27 (6), p.505-507 |
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Hauptverfasser: | , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0741-3106 1558-0563 |
DOI: | 10.1109/LED.2006.875757 |