Charge-based cCapacitance measurement for bias-dependent capacitance

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE electron device letters 2006, Vol.27 (5), p.390-392
Hauptverfasser:	CHANG, Yao-Wen, CHANG, Hsing-Wen, LU, Tao-Cheng, KING, Ya-Chin, WENCHI TING, KU, Yen-Hui Joseph, LU, Chih-Yuan
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Dielectric, amorphous and glass solid devices Electronics Exact sciences and technology Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!