Single-event effect radiation test results of radiation-hardened IEEE 1394 firewire ASICs

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PRITCHARD, Bruce E, UNDERWOOD, Joe B, MURLIN, W. Doug, COLEMAN, Andrea M, WOLFRAM, Kenneth D, WARNER, Jeff B, HAFER, Craig C
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
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