N–p–n bipolar-junction-transistor detector with integrated p–n–p biasing transistor—feasibility study, design and first experimental results

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor science and technology 2006-02, Vol.21 (2), p.194-200
Hauptverfasser: Verzellesi, Giovanni, Bergamini, Davide, Dalla Betta, Gian-Franco, Piemonte, Claudio, Boscardin, Maurizio, Bosisio, Luciano, Bettarini, Stefano, Batignani, Giovanni
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0268-1242
1361-6641
DOI:10.1088/0268-1242/21/2/018