Oxygen precipitation in Czochralski grown silicon heat treated at 525 °C

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor science and technology 2006-03, Vol.21 (3), p.236-243
Hauptverfasser: Cheung, J Y, Stewart, R J, May, R P
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0268-1242
1361-6641
DOI:10.1088/0268-1242/21/3/004