The impact of semiconductor technology scaling on COMS RF and digital circuits for wireless application : Integrated Circuits Technologies for RF Circuit Applications

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2005, Vol.52 (7), p.1415-1422
Hauptverfasser:	LEE, Kwyro, NAM, Ilku, KWON, Ickjin, GIL, Joonho, HAN, Kwangseok, PARK, Sungchung, SEO, Bo-Ik
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Amplifiers Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Digital circuits Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Signal convertors
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:	0018-9383 1557-9646