Liquid helium temperature irradiation effects on the operation of 0.7 μm CMOS devices for cryogenic space applications

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MERCHA, A, CRETEN, Y, PUTZEYS, J, MERKEN, P, DE MOOR, P, CLAEYS, C, VAN HOOF, C, SIMOEN, E, MOHAMMADZADEH, A, NICKSON, R
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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