Microstructure of plastic zones around crack tips in silicon revealed by HVEM and AFM

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: TANAKA, Masaki, HIGASHIDA, Kenji, HARAGUCHI, Tomoko
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0921-5093
1873-4936