Predicting the breakdown behavior of microcontrollers under EMP/UWB impact using a statistical analysis : Special issue on high-power electromagnetics (HPEM) and intentional electromagnetic interference (IEMI)

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electromagnetic compatibility 2004, Vol.46 (3), p.368-379
Hauptverfasser:	CAMP, Michael, GERTH, Hendrik, GARBE, Heyno, HAASE, Helmut
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electromagnetic compatibility Exact sciences and technology Information, signal and communications theory Telecommunications and information theory
Online-Zugang:	Volltext
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