Micro-Raman spectroscopic investigation of NiSi films formed on BF+2-, B+ - and non-implanted (100)Si substrates
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Veröffentlicht in: | Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 2004-08, Vol.79 (3), p.637-642 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0947-8396 1432-0630 |
DOI: | 10.1007/s00339-002-2067-3 |