Neighbor selection for variance reduction in IDDO and other parametric data

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	DAASCH, W. Robert, COTA, Kevin, MCNAMES, James, MADGE, Robert
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Digital circuits Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Microelectronic fabrication (materials and surfaces technology) Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:	1089-3539