Properties of SiO2 and Al2O3 films for electrical insulation applications deposited by reactive pulse magnetron sputtering

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: BARTZSCH, H, GLÖSS, D, BÖCHER, B, FRACH, P, GOEDICKE, K
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0257-8972
1879-3347