Nanoscale electric modification and observation of sputtered carbon films by atomic force microscopy with conductive tip

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: TAJIMA, H, SHIMADA, T, SAWASAKI, K, UMEMURA, S, HIRONO, S, TSUCHITANI, S, KANEKO, R
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0257-8972
1879-3347