The magnetic-resonance force microscope: A new tool for high-resolution, 3-D, subsurface scanned probe imaging: Spintronics technology

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Proceedings of the IEEE 2003, Vol.91 (5), p.789-798
Hauptverfasser:	HAMMEL, P. Chris, PELEKHOV, Denis V, WIGEN, Philip E, GOSNELL, Timothy R, MIDZOR, Melissa M, ROUKES, Michael L
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Exact sciences and technology Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy Magnetic force microscopes Physics Scanning probe microscopes, components and techniques
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