High-frequency point-contact spectroscopy of TiSi2, TaSi2, and VSi2

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of low temperature physics 2002-11, Vol.129 (3-4), p.105-116
Hauptverfasser: BALKASHIN, O. P, JANSEN, A. G. M, LABORDE, O, GOTTLIEB, U, SUKHODUB, G. L, WYDER, P, YANSON, I. K
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0022-2291
1573-7357
DOI:10.1023/A:1020860421545