Enhanced critical current density due to flux pinning from lattice defects in pulsed laser ablated Y1-xDyxBa2Cu3O7-δ thin films

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Superconductor science & technology 2000-07, Vol.13 (7), p.935-939
Hauptverfasser: Devi, A Radhika, Bai, V Seshu, Patanjali, P V, Pinto, R, Kumar, N Harish, Malik, S K
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0953-2048
1361-6668
DOI:10.1088/0953-2048/13/7/305