Insights into the mechanisms of light-induced degradation from studies of defects in low Ge fraction a-Si, Ge:H alloys

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: COHEN, J. David, HEATH, Jennifer, PALINGINIS, Kimon, YANG, Jeffrey C, GUHA, Subhendu
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0022-3093
1873-4812