Laser-induced fluorescence detection and kinetics of SiH2 radicals in Ar/H2/SiH4 RF discharges
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Veröffentlicht in: | Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 2000-02, Vol.33 (4), p.381-388 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 0022-3727 1361-6463 |
DOI: | 10.1088/0022-3727/33/4/311 |