Laser-induced fluorescence detection and kinetics of SiH2 radicals in Ar/H2/SiH4 RF discharges

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 2000-02, Vol.33 (4), p.381-388
Hauptverfasser: Hertl, Michael, Jolly, Jacques
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0022-3727
1361-6463
DOI:10.1088/0022-3727/33/4/311