Depth profiling in amorphous and microcrystalline silicon by transient photoconductivity techniques

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of physics. Condensed matter 2002-07, Vol.14 (28), p.6909-6915, Article 302
Hauptverfasser:	Brüggemann, R, Main, C, Reynolds, S
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties Electronic transport in condensed matter Exact sciences and technology Photoconduction and photovoltaic effects Photoconduction and photovoltaic effects photodielectric effects Physics
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!