Emissivity measurements and modeling of silicon-related materials: An overview

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of thermophysics 2001, Vol.22 (5), p.1593-1611
Hauptverfasser:	RAVINDRA, N. M, SOPORI, B, GOKCE, O. H, CHENG, S. X, SHENOY, A, JIN, L, ABEDRABBO, S, CHEO, W, ZHANG, Y
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties Exact sciences and technology Optical properties and condensed-matter spectroscopy and other interactions of matter with particles and radiation Optical properties of bulk materials and thin films Physics Thermooptical and photothermal effects
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