Effect of the Si wafer pretreatment on the patterned substrate morphology and growth of Hg1-xCdxTe PLD films
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Format: | Tagungsbericht |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 0921-5107 1873-4944 |
DOI: | 10.1016/S0921-5107(99)00392-X |