Effect of the Si wafer pretreatment on the patterned substrate morphology and growth of Hg1-xCdxTe PLD films

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: GORBACH, T. Ya, HOLINEY, R. Yu, MATVEEVA, L. A, SVECHNIKOV, S. V, VENGER, E. F, KUZMA, M, WISZ, G
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0921-5107
1873-4944
DOI:10.1016/S0921-5107(99)00392-X