Influence of source coupling on the programming and degradation mechanisms of split-gate flash memory devices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor science and technology 1999-12, Vol.14 (12), p.1021-1025
Hauptverfasser:	Huang, K-C, Fang, Y-K, Yaung, D-N, Chen, C-W, Sung, H-C, Kuo, D, Wang, C S, Liang, M-S
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Integrated circuits by function (including memories and processors) Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
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