Crystallinity of PTCDA films on silicon derived via optical spectroscopic measurements

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SALVAN, G, HIMCINSCHI, C, KOBITSKI, A. Yu, FRIEDRICH, M, WAGNER, H. P, KAMPEN, T. U, ZAHN, D. R. T
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0169-4332
1873-5584