Electron Hall mobility in GaAsBi

We present measurements of the electron Hall mobility in n -type GaAs 1 − x Bi x epilayers. We observed no significant degradation in the electron mobility with Bi incorporation in GaAs, up to a concentration of 1.2%. At higher Bi concentration ( ≥ 1.6 % ) some degradation of the electron mobility w...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 2009-08, Vol.106 (4), p.043705-043705-3
Hauptverfasser: Kini, R. N., Bhusal, L., Ptak, A. J., France, R., Mascarenhas, A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!