Electron Hall mobility in GaAsBi
We present measurements of the electron Hall mobility in n -type GaAs 1 − x Bi x epilayers. We observed no significant degradation in the electron mobility with Bi incorporation in GaAs, up to a concentration of 1.2%. At higher Bi concentration ( ≥ 1.6 % ) some degradation of the electron mobility w...
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Veröffentlicht in: | Journal of applied physics 2009-08, Vol.106 (4), p.043705-043705-3 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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