Trace analysis by heavy ion induced X-ray emission

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Mikrochimica acta (1966) 2000-01, Vol.133 (1-4), p.313-317
Hauptverfasser:	ECKER, K. H, WEISE, H.-P, MERKLE, K. L
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	ANL ATOMIC AND MOLECULAR PHYSICS Atomic properties and interactions with photons Auger effect and inner-shell excitation or ionization EMISSION Exact sciences and technology HEAVY IONS Photon interactions with atoms Physics
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