Electrical, microstructural, and thermal stability characteristicsof Ta/Ti/Ni/Au contacts to n-GaN

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 2003-06, Vol.95 (3)
Hauptverfasser: Motayed, A., Jones, K.A., Derenge, M.A., Wood, M.C., Zakharov,D.N., Liliental-Weber, Z., Smith, M.C., Davydov, A.V., Anderson, W.T., Iliadis, A.A., Mohammad, S.N.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-8979
1089-7550