Boltzmann transport equation-based thermal modeling approaches for hotspots in microelectronics

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Veröffentlicht in:Heat and mass transfer 2006-04, Vol.42 (6), p.478-491
Hauptverfasser: NARUMANCHI, Sreekant V. J, MURTHY, Jayathi Y, AMON, Cristina H
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0947-7411
1432-1181
DOI:10.1007/s00231-005-0645-6