Spin-dependent Fabry-Pérot interference from a cu thin film grown on fcc Co(001)

Spin-dependent electron reflection from a Cu thin film grown on Co/Cu(001) was investigated using spin-polarized low-energy electron microscopy (SPLEEM). Fabry-Pe rot type interference was observed and is explained using the phase accumulation model. SPLEEM images of the Cu overlayer reveal magnetic...

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Veröffentlicht in:Physical review letters 2005-01, Vol.94 (2), p.027201.1-027201.4
Hauptverfasser: WU, Y. Z, SCHMID, A. K, ALTMAN, M. S, JIN, X. F, QIU, Z. Q
Format: Artikel
Sprache:eng
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