Characterization of three-dimensional grain boundary topography in a YBa2Cu3O7 thin film bicrystal Grown on a SrTiO3 substrate

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 1998-03, Vol.84 (9)
Hauptverfasser: Ayache, J., Thorel, A., Lesueur, J., Dahmen, U.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-8979
1089-7550
DOI:10.1063/1.368736