Publisher’s Note: “X-ray photoelectron spectroscopy study of the chemical interaction at the Pd/SiC interface” [J. Appl. Phys. 108, 093702 (2010)]

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 2011-01, Vol.109 (2)
Hauptverfasser: Zhang, Y., Gajjala, G., Hofmann, T., Weinhardt, L., Bär, M., Heske, C., Seelmann-Eggebert, M., Meisen, P.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-8979
1089-7550
DOI:10.1063/1.3532951