$Electron backscattered diffraction using a new monolithic direct detector: High resolution and fast acquisition$

Electron backscattered diffraction using a new monolithic direct detector: High resolution and fast acquisition

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Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Ultramicroscopy 2021-01, Vol.220 (C)
Hauptverfasser:	Wang, Fulin, Echlin, McLean P., Taylor, Aidan A., Shin, Jungho, Bammes, Benjamin, Levin, Barnaby D. A., De Graef, Marc, Pollock, Tresa M., Gianola, Daniel S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Microscopy
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Not provided.
ISSN:	0304-3991 1879-2723