Correlating results from high resolution EBSD with TEM- and ECCI-based dislocation microscopy: Approaching single dislocation sensitivity via noise reduction

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Ultramicroscopy 2019-12, Vol.210 (C)
Hauptverfasser:	Ruggles, T. J., Yoo, Y. S. J., Dunlap, B. E., Crimp, M. A., Kacher, J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	dislocation microscopy ECCI HREBSD MATERIALS SCIENCE TEM
Online-Zugang:	Volltext
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