Irreversible metal-insulator transition in thin film VO2 induced by soft X-ray irradiation

In this study, we show the ability of soft x-ray irradiation to induce room temperature metal-insulator transitions (MITs) in VO2 thin films grown on R-plane sapphire. The ability of soft x-rays to induce MIT in VO2 thin films is confirmed by photoemission spectroscopy and soft x-ray spectroscopy me...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 2017-12, Vol.111 (24)
Hauptverfasser: Singh, V. R., Jovic, V., Valmianski, I., Ramirez, J. G., Lamoureux, B., Schuller, Ivan K., Smith, K. E.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!