Defect-reduction mechanism for improving radiative efficiency in InGaN/GaN light-emitting diodes using InGaN underlayers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 2015-04, Vol.117 (13)
Hauptverfasser: Armstrong, Andrew M., Bryant, Benjamin N., Crawford, Mary H., Koleske, Daniel D., Lee, Stephen R., Wierer, Jonathan J.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-8979
1089-7550
DOI:10.1063/1.4916727