Revisiting the “In-clustering” question in InGaN through the use of aberration-corrected electron microscopy below the knock-on threshold
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Veröffentlicht in: | Applied physics letters 2013-05, Vol.102 (19) |
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Hauptverfasser: | , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0003-6951 1077-3118 |
DOI: | 10.1063/1.4807122 |