Revisiting the “In-clustering” question in InGaN through the use of aberration-corrected electron microscopy below the knock-on threshold

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 2013-05, Vol.102 (19)
Hauptverfasser: Baloch, Kamal H., Johnston-Peck, Aaron C., Kisslinger, Kim, Stach, Eric A., Gradečak, Silvija
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0003-6951
1077-3118
DOI:10.1063/1.4807122