Measurement of the high-temperature Seebeck coefficient of thin films by means of an epitaxially regrown thermometric reference material

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Review of scientific instruments 2012-09, Vol.83 (9)
Hauptverfasser: Ramu, Ashok T., Mages, Phillip, Zhang, Chong, Imamura, Jeffrey T., Bowers, John E.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0034-6748
1089-7623
DOI:10.1063/1.4754714