Measurement of the high-temperature Seebeck coefficient of thin films by means of an epitaxially regrown thermometric reference material
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Review of scientific instruments 2012-09, Vol.83 (9) |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | |
---|---|
ISSN: | 0034-6748 1089-7623 |
DOI: | 10.1063/1.4754714 |