Similarities between Ionizing Radiation Effects and Negative-Bias Temperature Instability (NBTI) in MOSFET Devices

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Hjalmarson, Harold Paul, Nguyen, D. D., Kambour, Kenneth E., Kouhestani, C., Devine, Roderick A. B.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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