Improvement of PS Measurement by Phase Compensation Method and Profile Fitting Method in White Light Phase Shifting Interferometry

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Current optics and photonics 2018, Vol.2 (4), p.340-347
Hauptverfasser: Dong Hun Ku, Sun Mi Lee, Ha Na Roh, Tai-Wook Kim, Heui Jae Pahk
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2508-7266
2508-7274
DOI:10.3807/COPP.2018.2.4.340