Comparative Study of Negative Capacitance in Ferroelectric Capacitors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of semiconductor technology and science 2018, Vol.18 (2), p.167-171
Hauptverfasser: Hansol Ku, Changhwan Shin
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1598-1657
2233-4866
DOI:10.5573/JSTS.2018.18.2.167